求助天线测量的问题

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近场测量系统中,探头阵列对待测天线的平面波照射是测量的关键技术之一
我想问下，平面波照射待测天线是起到什么作用？谢谢！

天线近场测量实际上是用的互易原理，也就说我们要测量天线的远场特性（增益，方向图等）。而近场测量中我们用阵列探头综合出某个方向入射的平面波来照射被测天线，根据互易原理，此时被测天线的接受幅度实际上就是相当于被测天线在该方向的辐射远场幅度。这样我们就得到了该天线的辐射远场特性。
不知道我写清楚了没有。如果没有写清楚，请指出哪里有疑问我继续回答。

非常感谢，你说的很清楚！

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业帮助，请学习业界专家讲授的天线设计视频培训教程。

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