- 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
超低副瓣天线平面近场测量取样方式的新准则
录入：edatop.com 点击：
超低副瓣天线平面近场测量取样方式的新准则
内容简介：采用实验的方法给出了用平面近场技术测量超低副瓣天线时收发天线之间的近区测试距离以及取样密度的选取准则,提出了超低副瓣天线测量对测试系统温度漂移的要求,并给出了满足系统温度漂移要求的测试方式.依据新的选取准则,实测了最佳角锥喇叭和波纹喇叭天线的E面方向图.测试结果说明,该选取准则具有良好的重复性,且重复精度为60dB±2dB.
作者：张福顺, 焦永昌, 刘其中, 毛乃宏,
关键词：超低副瓣天线, 平面近场测量, 取样间距, 采样密度,
上一篇：三角环对数周期天线的设计及分析
下一篇：适用于LTE室内分布的三极化天线结构研究
