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为什么用耦合箱测试整机的时候干扰被消除了
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现在小弟有个问题：前段时间做项目的时候，低频耦合出现干扰。将FPC拔掉后在 2D模式下 测试 干扰消失。在3D模式下测，干扰还是存在。请问各位老大是什么原因造成的？
用多部机器验证都是这样的效果。整机为侧滑全键盘
干扰TIS吗？找出哪根线，然后加缓冲
我不是问怎么消除干扰。我是问为什么用2D和3D测试的结果会不一样？
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需系统了解手机天线设计，可以学习业界专家讲授的手机天线设计培训教程。
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