- 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
基于扫频时域法测量的RCS外推技术研究
录入：edatop.com 点击：
基于扫频时域法测量的RCS外推技术研究
内容简介：大目标的室内RCS测量不易满足远场条件,外推技术可将测试距离大幅度缩短,从而克服此缺陷.针对点频连续波方法测试RCS精度很有限,致使外推结果精度不高,本文提出基于扫频的时域法RCS外推技术.扫频测试能得到高精度的时域测试数据,通过对时域数据进行有效的变换,获取准确的频域幅相信息,从而外推出较高精度的远场RCS,实现大目标的RCS测量.通过对金属圆柱的测试,验证了该技术的优越性.
作者：李南京, 许家栋, 张麟兮, 胡楚锋,
关键词：雷达散射截面, RCS, 时域, 扫频, 外推
