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T/R 件波束控制测试方案设计

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4设计实例

实验中,预设输入信号通道16位,频率范围为0~40MHz,输入电平范围为-5~8V可调,输出信号通道64位可选,这些能满足大部分常规波控电路的测试要求。

4.1驱动电路

驱动电路选用Intersil公司的EL7457,该电路最大驱动能力可达到2A,4路输入4路输出,最高频率可达到40MHz,输出高电平范围为-2~16.5V,输出低电平范围为-5~8V,完全满足常规波控电路输入要求。驱动电路原理如图4所示,其中,R1~R4是串接的小电阻,用于减小输出波形过冲,L和H为设置的输出高、低电平值,这样设计的好处是输入高、低电平可调,且不影响输入时序。



图4驱动电路原理

4.2比较器

比较器选用Maxim公司推出的一款高速、低压差比较器MAX901,可以双电源供电,也可以单电源供电,输出电压可以根据用户要求进行设置。电路外围设计如图5所示。CHV为比较电压设置,CH1~CH4为被测器件输出端口,FCH1~FCH4为FPGA接收端口。通过设置MAX901比较电压,可以测试器件不同电压输出时的逻辑功能。D1~D4的作用是指示,方便调试。



图5比较器电路原理

 

4.3可编程部分

可编程器件选用Xilinx的一款低端产品XC3S50AN,这是因为测试中仅利用丰富的IO资源和向量存储,没有太高的要求,选用低端产品就足够了。图6所示为JTAG的配置,用于FPGA程序下载。电源模块电路原理如图7所示,只需两种电源,内核为1.2V,辅助电压及端口电压设置成3.3V.



图6 JTAG配置

图7电源模块电路原理

时序仿真可以采用两个可编程器件,一个用于数据发送及开关控制,另一个用于数据接收及功能判断。图8所示为数据发送FPGA的仿真波形,S为FPGA输出开关控制信号;delay_sn,delay_clk,delay_clr三个信号为开关控制输入信号,实现将串行数据并行输出;P为FPGA输出给被测器件的信号,由dutin_r,dutin_s,dutin_clk,dutin_clr,IN控制输入。可以看出,用FPGA产生时序是比较理想的选择。



图8输入时序仿真

图9所示为数据接收FPGA仿真波形。CH接收存储被测器件逻辑值,datain,dataclk,address用于设置理想逻辑值。PASS,FAIL为输出状态指示。



图9功能判断仿真

4.4测试结果

图10所示为按本文方案制作的波控电路测试系统照片。左上图为两个FPGA,一个用于数据发送,一个用于数据接收判断;右上图为系统电源模块,下图为系统组合。该系统可实现16位以内输入,64位以内输出的常规波束控制电路的全参数测试。表2列出一款32位T/R组件波束控制电路实测结果。其中,比较器的比较电平设置为4.8V和0.2V,因此,输出高电平≥4.8V,低电平≤0.2V.



图10波控电路测试系统实物照片

表2测试结果

5结论

波束控制电路专用性强,输入输出接口较多,时序严格,逻辑功能复杂,其测试较为复杂。本文提出一种测试方案。该方案简单,易于实现,充分利用FPGA丰富的IO资源及可编程特点,很好地解决了波束控制电路测试中的难点。同时,该方法易于实现常规波控电路测试系统的通用性,仅仅需要定义好测试系统转接部分的输入接口,以及编写不同的发送和接收程序,便可实现常规波控电路的通用性。

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