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电源噪声测试中示波器的量化误差

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示波器是一种常用的电子测量仪器,它可以把肉眼看不见的电信号转换为可见的图像,以便于人们研究电现象的变化构成。示波器的作用是非常广泛的,还可以使用示波器经行噪声测试,那么具体的测试方法是什么呢?

电源噪声测试中,示波器的量化误差会导致测量不准确。示波器存在量化误差,实时示波器的ADC为8位,把模拟信号转化为2的8次方(即256个)量化的级别,当显示的波形只占屏幕很小一部分时,则增大了量化的间隔,减小了精度,准确的测量需要调节示波器的垂直刻度(必要时使用可变增益),尽量让波形占满屏幕,充分利用ADC的垂直动态范围。

通常测量电源噪声,使用有源或者无源探头,探测某芯片的电源引脚和地引脚,然后示波器设置为长余辉模式,最后用两个水平游标来测量电源噪声的峰峰值。这种方法有一个问题是,常规的无源探头或有源探头,其衰减因子为10,和示波器连接后,垂直刻度的最小档位为20mV,在不使用DSP滤波算法时,探头的本底噪声峰峰值约为30mV。以DDR2的1.8V供电电压为例,如果按5%来算,其允许的电源噪声为90mV,探头的噪声已经接近待测试信号的1/3,所以,用10倍衰减的探头是无法准确测试1.8V/1.5V等小电压。在实际测试1.8V噪声时,垂直刻度通常为5-10mV/div之间。

另外,探头的GND和信号两个探测点的距离也非常重要,当两点相距较远,会有很多EMI噪声辐射到探头的信号回路中,示波器观察的波形包括了其他信号分量,导致错误的测试结果。所以要尽量减小探头的信号与地的探测点间距,减小环路面积。(end)

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