迎接八天线LTE测试的挑战

此外，信道互易性需要对8×2双向MIMO测试系统进行相位校准，而对系统的波束赋形能力进行测试。有效的信道相位校准和调整都是实现可靠和高效测试的关键因素。信道数量的这种增加，还要求将RF硬件更密集地集成到系统中。否则，将很难实现RF信道与外部分路器、组合器和环行器等大量器件的精确和可靠连接。

先进的信道建模：由于八天线LTE系统使用了先进的天线技术，测试所用建模信道必须复现这些技术中所用信道的物理特性。如果在仿真中没有将每一细节都囊括在内，则有可能建立不正确的基准，而无法对真实系统性能进行评价。例如，极化会影响用户设备接收到的信号功率。与非极化的案例相比，该接收信号的视在功率较低。这种由于极化直接造成的损耗取决于用户设备相对于eNodeB天线阵列的方向。

天线模式也对信号强度有直接的影响。接收信号的功率会随信号传播方向的不同而变化。由于每种可能场景都有唯一的一组分离角(AoD)，因此功率将会再次随方向的不同而变化。当天线模式和极化结合在一起时，这个问题会变得更加难以应付。表1显示了双信道场景下不同组合的功率损耗。表中的"X"代表一个交叉极化天线对，而竖线(||)代表的是无极化的天线组件。

表1：极化和天线模式对接收功率产生的影响。

动态场景：对于一个波束赋形系统而言，仅在静态(非移动)条件下进行测试远远不够。波束赋形本质上包含两个步骤：估计用户设备的方向，以及将波束指向该方向。当用户设备移动时，它(相对于eNodeB天线阵列)的方向也会改变。在理解系统性能的过程中，这种现象会带来两个基本问题：系统跟踪用户设备移动的速度有多快，以及系统的性能会因此受到怎样的影响？为了解答这些问题，我们必须使用能够代表实际运行条件的动态场景来对波束赋形系统进行测试。

测试方法

鉴于前文中所讨论过的原因，行之有效的测试方法必须能够应对所描述的这些挑战：在紧凑尺寸中提供数量较大的互易性RF信道，考虑到天线模式和极化的信道建模，以及在动态(运动)场景中测试波束赋形的能力。双向8×N系统测试所需的信道数量会带来前所未有的挑战。图3显示了8×2双向测试所用的现代系统。传统的信道仿真器可能占用一个40U机架，并且需要大量的外部RF硬件才能实现相同的信道场景。

图3：8×2 MIMO波束赋形测试的信道仿真。

随着技术的进步，对测试系统的要求只会变得越来越具有挑战性和越来越苛刻。一个实例就是双流波束赋形应用，其中包含两个从不同物理位置与同一eNodeB BTS通话的用户设备。所需的测试拓扑结构中包含一个8×4双向MIMO信道(也就是具有32个数字信道的16个RF信道)。另外一个实例就是IRC。对IRC进行测试，需要eNodeB BTS(本测试案例中的被测设备(DUT))从一个"期望"的用户设备和多个引起干扰的用户设备接收信号，并且测试还要考虑到衰落的效应。