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大家有没有将测得的TDR数据转换成S参数的方法和经验啊，我最近在研究。
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单位有台高速示波器，可以测试TDR,但是没有VNA,现在想得到S参数，请问有什么方法可以将测得的TDR数据装换成S参数，望大家多指教。
S参数是频域的参数，TDR测试是发送一个脉冲波到被测件，测试其反射波，脉冲波上升时间是用户设定的，如30ps的上升时间，这个在频域只对应一个频点，其他的频点没有数据啊，难道你要测试n次?我觉得这个换算不现实啊
Intel的测量插损的方法：SET2DILL，是使用TDR模块获取阻抗信息经软件算法得到插入损耗值，但也不是S参数
TDR里面有个内嵌软件叫 ICONNECT 可以实现！ SET2DILL得到的是差损，单位是DB/INCH
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业帮助，请学习易迪拓培训专家讲授的ADS视频培训课程。
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