芯片的重复性影响因素

可靠性的问题吧?

重复性……，这用词，从来没有听说过，我猜你说的是一致性吧！就是chip to chip，wafer to wafer，lot to lot的差别吧

他说的是第一次测试的结果和第二次测试的不一样,呵呵, 成了时变系统了.

是这个意思

同一颗芯片测出不同的结果，这个就比较奇怪了
测试环境相同，寄存器设置相同么?不会是芯片failed了吧

    Esd做得不好也长发生，刚开始一个月测的还行，一个月后各种诡异问题。

    在上电之前check一下power和bias这些外加的东西，保证每次一样。

芯片老化也可能引起不同时间测得不同吧。

ESD 打坏掉了吧

芯片老化可能会引发数据变化，但是如果结果差异很大，我觉得首先看设置和ESD的问题吧。

    ESD坏掉应该可以测出来吧，而且引脚功能会不正常

    差异不大，相隔的时间不长，可能是同一天，不同时候而已。但是还是看得出有差异。
可能是哪方面的设置?ESD的问题会是什么状况?

既然不是 芯片failed, esd问题当然是不可能的
如果差别不大,考虑环境问题, 是不是中午比较热,早晚比较凉,哈哈
你搞了个温度系数比较大的design

首先保证你的芯片测试情况完全一致，另外还有个问题，你的测试结果是可重复的吗?一天的不同时候，有什么不同?温度不同，芯片工作时间不同，芯片接地是否可靠?

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