讨论一下高精度ADC的测试问题

最近在测试一个sigma delta ADC，测试中出现了点问题，在这里分享出来，和大家讨论一下。
     这个sigma delta ADC有20倍的PGA，VREF=2V，采用四阶结构，所以最大输入范围设置在0.65VREF/PGA左右，测试时的最大信号都用的是0.5VREF/PGA，信号源采用的是AP，信号频率为1K，幅度为100mVp-p，由于当时做测试板时，没有加入全差分运放做为buffer去驱动ADC，而且AP的输出共模电平为地，而且貌似不可调，因此会输出负信号，所以pin脚处会有-50mV的负信号。
     我是直接将AP的输出接入ADC前端的RC抗混叠滤波器，测试结果发现在2k，3k处存在谐波，其余频率处谐波几乎没有。三次谐波通过改变RC滤波器电容类型可以减小，而二次谐波无法减小，但是如果我在两个输入pin脚之间加入一个电容，二次谐波会变大，降低输入信号幅度，二，三次谐波会明显减小，直到50mVp-p时基本没有。
      不过输入到pin脚的走线有点长，而且对称性一般(不过也是按照对称来画的PCB)，
问题1：在AP和ADC之间加入一个全差分buffer能否改善二次谐波的问题。
问题2：如何定位二次谐波的产生来源。
问题3：芯片pin脚是负信号会否影响线形度(做过一个简易电路，将AP的输出共模抬到VDD/2，并没有多大的改善)
问题4：RC滤波器的C的类型都会影响最终的线性度，是因为C本身的线性度不够吗?

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