ADC 测试值不一样

老大，你什么信息都没有

   你量的是绝对值吧
   你看看相对值，是怎么样地

每一片的相对值偏差在10个LSB左右，这个应该是电源干扰造成了，但是每一片的中间值都不一样，有的F0，有的70，有的偏的更远。

没有测试pin么?到底是temperature sensor问题还是ADC 的问题，需要debug一下

没有放测试pin，悲剧鸟啊，所以想知道可能会是哪里的问题呢，是ADC的比较器，还是基准电压。或者是失调造成的吗?

我现在怀疑是电阻的画法有问题，应该用差值结构，我们目前用的蛇形结构～

测试系统也有可能引入类似的问题

这个是MISMATCH的影响，这是没有办法的。
只能想办法减小或者校准。

   有没有减小mismatch的办法呢?   我现在在做用eeprom来校准sensor，不知道有没有其他想法。

不知道你电路的具体结构，一般来讲是增加尺寸，MOS管的话增加vdsat的效果也很不错。另外，版图布局也很重要。
不过，具体电路具体分析。你得看你的mismatch主要是在哪里产生的，是在sensor中产生的还是只是ADC产生的。像ADC中的mismatch产生的DC offset是可以使用电路结构消除的，而由ADC的Verf产生的gain offset就只能校准或者采用外部ref来消除，要不然只能减小mismatch来减小gain offset。个人觉得，温度的sensor，如果需要有精确的温度的话只能校准。而且芯片量产的时候还会有process的影响，与mismatch差不多，只是一个是相对于晶体管，一个是相对于wafer

    我分析可能是sensor的vref偏差造成的，所以现在的方案是用内部eeprom做初始化修调，在中测的或者成测的时候来校准。
    多谢～～

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