芯片高低温测试Gain变化20dB以上！
录入：edatop.com 阅读：
芯片输入中心频率12GHz，输出中频1.5GHz，
集成RX、PLL、Bias模块，
RX使用constant-gm偏置，
把整块测试版放进高低温箱进行高低温测试，
PCB板使用rogers 4003，其他片外器件有电阻电容、晶振
已经确保PLL输出的LO高低温测试没有问题，
然而RX Gain从常温到80摄氏度，增益掉了24dB，
假如问题不在偏置那里，请问各位大侠还有什么地方可能是问题所在呀?
集成RX、PLL、Bias模块，
RX使用constant-gm偏置，
把整块测试版放进高低温箱进行高低温测试，
PCB板使用rogers 4003，其他片外器件有电阻电容、晶振
已经确保PLL输出的LO高低温测试没有问题，
然而RX Gain从常温到80摄氏度，增益掉了24dB，
假如问题不在偏置那里，请问各位大侠还有什么地方可能是问题所在呀?
用了开环增益吧
直流点呀直流点
是的，用了开环的，这个变化太大太大了
直流点测试看不出问题
那没办法，用了开环增益放大器，这个增益在typical时还蛮大，你温度前仿变化如何。如果不高再考虑bg上电流的变化
增益随温度，前后仿都没有测试变化那么那么大
RX偏置是使用constant-gm的，内部VDD倒是随温度变化不大（这个是BG做reference的LDO驱动的）
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习本站推出的微波射频专业培训课程。
上一篇：PLL几个常见参数关系
下一篇：assuta后仿的问题。
