AVTH随着栅氧厚度的增加而按比例减小
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有趣的是，已经观察到，AVTH随着栅氧厚度的增加而按比例减小。
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这个是我在Razavi的“模拟CMOS集成电路设计”中文版的P378（第13章不匹配章节）上看到的，应该是翻译错了吧?
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这个是我在Razavi的“模拟CMOS集成电路设计”中文版的P378（第13章不匹配章节）上看到的，应该是翻译错了吧?
呵呵 没有人对mismatch的问题感兴趣吗?
的确是中文翻译错了，原文是
Avth has been observed to scale down with the gate oxide thickness
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