后仿真的问题

录入:edatop.com    阅读:
chartered工艺,nplus_u电阻,做的带隙。drc,lvs没问题,后仿真,dc结果跟前仿真差距很大,怀疑是电阻有问题,可是提取rc的网表里电阻确实是20k与电路中一致,有人遇到过这个问题吗?

I do not have experience with the process you mentioned. But did you check you used pre-simulation model for schematic sim and pos-simulation model for extracted sim?



   你好,我用的是smic0.18um的工艺,用的rhpro电阻和rnwsti电阻,做的基准电流源,也出现了这种问题,提出来的电阻和前仿时是一样的,但是后仿真时这个电阻乘以电流偏离电阻上的电压10倍左右啊,请问你是怎么解决的?谢谢!

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。如需专业解答,请学习本站推出的微波射频专业培训课程

上一篇:利用瞬态分析方法分析电路的稳定性
下一篇:求助spectre后仿真

射频和天线工程师培训课程详情>>

  网站地图