四端口晶片射频测量方法取得进展

例如，众所周知，不同标准的探头位置变化以及七个标准中的不同定义都要影响SOLT(短路-开路-负载-直通)校准的精度。当校准定义由探头制造商提供时，一些值取决于所考虑的标准的数量。标准过多或过少都会令输入的标准值无效，从而导致误差。

Cascade Microtech公司的先进校准技术减小了探头位置变化的影响。该LRRM(线-反射-反射-匹配)校准采用自动补偿技术，为标准的感应系数提供实际值，而不是由探头提供的假想值。这就消除了由探头位置引起的许多误差。

进一步讲，LRRM校准并不依赖于具有不精密的已知电特性参数的标准。在该校准中，以直通的方式能够提供绝大部分所需信息。该架构近似理想，因为其长度很短，从而将损耗或阻抗偏差的影响降到了最小。对于双探头和四端口环来说，需要一些回环直通（loopback throughs），但这并非理想方案。

目前，一个真正的混合LRRM-SOLR校准被提供用于四端口应用，并且在Cascade Microtech公司的WinCal XE校准软件中可以使用。该校准方法利用了上述两种校准方法的优点，为四端口校准提供了极好的性能。

一个完整的四端口测量系统将提供下列优点：

1. 对不同标准中的探头放置的敏感度低；

2. 对标准数量和标准的电定义数量要求最少；

3. 具有固定的探头定位自动晶片移动；

4. 允许非理想的回环直通；

5. 较低的信号间串扰；

6. 平衡考虑了目前先进的两端口校准方法的优点。

本文小结

复杂的四端口晶片测量要求注意探测系统的细微之处，并采用先进的VNA校准算法。直至如今，先进的“宽容限探测”四端口校准技术尚未研发出来。而目前可以使用一种新型的混合校准技术，来降低四端口器件测量的复杂度，并提供精密的、可靠的和可重复的四端口校准。

作者：Larry Dangremond

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