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理想状态下，是不是手机的耦合测试值与点测值一致？
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理想状态下,是不是手机的耦合测试值与点测值一致?
在生产测试手机天线性能时,以点测值(发射和接收)进行屏蔽箱的线损校准可不可行?
在生产测试手机天线性能时,以点测值(发射和接收)进行屏蔽箱的线损校准可不可行?
自己顶一下!
你有没有发现,耦合测试时移一下手机的位置,发射和接收的值会变
而且,不大可能出现你说的理想状态
很难达到一致吧，耦合测试和传导测试的方法和目的就有很大差异，耦合测试是通过天线辐射接受的空中途径来完成的测试，测试结果反映了包括天线在内的一整个手机的性能指标，而传导测试通过屏蔽馈线的点测试，虽然测试能反映接收机发射机的性能，但却没有考量天线因素。天线耦合损耗是一定有的，只是大小不同而已，你说两种测试值能做到一致吗？
在研发阶段，特别是天线调试时耦合测试是必需的，在生产的时候是可以用传导测试的方法，基本还是很可靠的。
不可能做到一致的,因为测试的方法和目的不一致呀
一般情况都会得到不一样的结果，我们知道，连接模式下测试的结果通常都很一致，但是耦合模式下，有很多因素会影响测试结果，所以通常不会得到很一致的结果，耦合测试的意义在于在调试过程中作对比试验，看前后测试结果的变化值，得到一个参考结果而已。要得到比较精确的耦合测试结果最好在Chamber里面做3D测试，这样的结果比较可信。
肯定不一样
耦合的结果是点测的结果与天线性能的综合。所以测试过程完全理想的话，点测和耦合测试的差异表征天线性能
受益非浅...
学习学习 电波传波原理 就知道了。
下雨 天晴 天 电波传播特性都会有差异呢
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。
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